武汉电子器件有害物质检测-汞含量检测-CNAS实验室

在电子器件的质量管控和环保评估中，汞含量检测是至关重要的一环。依据 IEC 62321 标准，这种检测能有效保障电子器件的安全性和环境友好性。

依据 IEC 62321 标准，汞含量检测主要基于特定的化学分析原理。其中，冷原子吸收光谱法是常用的方法之一。该方法利用汞在常温下容易挥发且能被特定波长的光激

发产生原子吸收的特性。当电子器件样品经过处理后，汞被转化为原子态汞蒸气，在特定波长的紫外光照射下，汞原子吸收光能，通过测量光吸收的程度，根据朗伯 - 比

尔定律可计算出汞的含量。另外，电感耦合等离子体质谱法（ICP - MS）也可用于汞含量检测，其原理是通过等离子体将样品离子化，汞离子在磁场中根据其质量与电荷

比的不同进行分离和检测，从而**地测定汞离子的含量。

样品准备：从电子器件中选取有代表性的样品，考虑到电子器件的复杂性，可能需要拆解部分结构，获取如芯片、焊点、外壳等不同部位的材料。将这些样品粉碎或切割

成合适的大小，确保后续处理的均匀性，并做好标记，记录样品的来源等信息。

样品处理：对于不同材质的样品，处理方式有所不同。如果是金属样品，可以使用合适的酸溶液（如硝酸、盐酸混合液）进行消解，将汞从金属晶格中释放出来。对于含

有有机物的样品，可先进行高温灰化处理，去除有机物，然后再用酸消解，使汞以离子形式存在于溶液中。

检测分析：若采用冷原子吸收光谱法，将处理后的样品溶液置于特定的反应装置中，通过化学还原等方法将汞离子转化为原子态汞蒸气，然后导入光吸收检测系统，测量

汞原子对特定波长紫外光的吸收情况。若使用 ICP - MS，则将处理后的样品溶液引入等离子体质谱仪，设置合适的仪器参数，对汞离子进行检测和定量分析。

结果记录与判定：记录检测得到的汞含量数据，并依据 IEC 62321 标准规定的汞含量限值来判断电子器件是否符合要求。若含量超标，需进一步分析原因，可能是原材料

引入或生产过程中的污染。

消解设备：如电热板、微波消解仪等，用于对样品进行消解处理，将其中的汞释放出来，这些设备需具备**的温度控制和良好的安全性。

冷原子吸收光谱仪或电感耦合等离子体质谱仪：冷原子吸收光谱仪仪用于通过冷原子吸收原理检测汞含量，操作相对简单且对汞有较高的灵敏度。电感耦合等离子体质谱仪

则基于离子化和质谱原理，可同时检测多种元素，包括汞，且具有高灵敏度和准确性。

其他辅助设备：包括样品研磨机、天平、容量瓶、移液管等，用于样品的预处理、溶液的配制和准确量取，确保检测过程的准确进行。

通过严格按照 IEC 62321 标准进行汞含量检测，可以有效避免电子器件中汞超标问题，保护人类健康和环境。